FERRERO SCOTTI - Metrologia Forense

€48,00
€48,00
La quantità deve essere 1 o più

Un'introduzione ai Principi della Metrologia per Magistrati, Avvocati e Periti Forensi

Questo libro si propone di fornire una guida all’impiego della metrologia in ambito forense, chiarendo i limiti di validità delle prove scientifiche ed esponendo un’illuminante serie di casi di studio alla cui soluzione ha contribuito in modo sostanziale la valutazione dell’incertezza di misura. Vengono presentati e discussi i concetti fondamentali della metrologia e si illustra come la metrologia sia in grado di quantificare l’affidabilità dei risultati di misura e, quindi, di garantire la correttezza dei processi decisionali basati su tali risultati. Con l’ausilio dei casi di studio trattati, il libro intende spiegare ai lettori le modalità con cui decisioni possono essere assunte, in ambito forense, in presenza di incertezza. I campi applicativi trattati dai casi di studio includono le misure di concentrazione di alcol nel respiro e l’identificazione per mezzo delle analisi di DNA. Oggigiorno, un numero sempre crescente di casi viene risolto sulla base di prove ottenute con metodi scientifici basati su risultati di misurazioni. In questo contesto, la Metrologia Forense rappresenta un valido strumento per avvocati e magistrati in ordinamenti tanto di common law che di civil law, così come per ingegneri e scienziati forensi.
Alessandro Ferrero è professore ordinario di misure elettriche ed elettroniche al Politecnico di Milano, dove si occupa di metodi di misura innovativi e della loro caratterizzazione metrologica. È Fellow dell’IEEE e dell’AAFS e Foreign Member per la classe delle Scienze Tecniche della Reale Accademia Fiamminga delle Scienze e delle Arti del Belgio. È stato presidente dell’IEEE Instrumentation and Measurement Society e Editor in Chief delle IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement. È il direttore della rivista Tutto_Misure.
Veronica Scotti è avvocato del foro di Milano; è professore a contratto di materie giuridiche al Politecnico di Milano ed è membro dell’AAFS. Si occupa delle interazioni tra tecnica e giurisprudenza e in particolare degli aspetti giuridici della metrologia legale e forense, di cui è tra i maggiori esperti europei, come testimoniato dai numerosi articoli pubblicati su prestigiose riviste del settore.
Go to full site