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ZAPPA - Circuiti Analogici

SKU: 3474-B69-1Ed.2004

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ZAPPA - Circuiti Analogici

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Polarizzazione transistori BJT, MOSFET e JFET, analisi piccolo segnale diagrammi di Bode e luogo radici, retroazione negativa e guadagno d'anello

Il libro propone una metodologia di analisi e progetto per circuiti elettronici analogici, utilizzanti transistori bipolari (BJT) e ad effetto di campo (MOSFET e JFET). I circuiti sono analizzati nel dettaglio ma in modo molto intuitivo. Rispetto ad altri testi di Elettronica, in questo libro l'Autore non impiega i circuiti equivalenti di piccolo segnale per i transistori, bensì utilizza un approccio visivo da applicare direttamente sullo schema elettrico. L'analisi risulta essere rapida e permette di acquisire familiarità ed intuito nella progettazione Elettronica.
I punti trattati sono i seguenti:
• polarizzazione dei transistori BJT, MOSFET, JFET;
• analisi di piccolo segnale dei transistori;
• guadagni di tensione, di corrente, transresistenza e transconduttanza; • impedenze di ingresso ed uscita degli stadi;
• stadi differenziali;
• circuiti reazionati;
• guadagno d’anello, guadagno ideale e reale ad anello chiuso;
• risposta in frequenza degli stadi;
• calcolo e stima dei poli e zeri degli stadi;
• diagrammi di Bode e luogo delle radici.
L’Autore si rivolge ad un pubblico interessato alla progettazione hardware di circuiti elettronici analogici al livello transistore.

FRANCO ZAPPA è nato nel novembre 1965. Nel 1989 si è laureato con lode in Ingegneria Elettronica al Politecnico di Milano e nel 1993 ha conseguito il titolo di Ph.D. in Ingegneria Elettronica e delle Comunicazioni. Dal 1993 al 1998 è stato ricercatore presso il Dip. di Elettronica e Informazione; dal 1998 è professore associato presso il Politecnico di Milano. È stato docente dei corsi di "Sistemi Elettronici", "Elettronica III", "Fondamenti di Elettronica", ai corsi di Laurea in Ingegneria Elettronica. Si occupa della progettazione di matrici di sensori ottici ad elevatissima sensibilità e dell'elettronica di pilotaggio, per la caratterizzazione non invasiva di circuiti VLSI e per microscopia risolta temporalmente.

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